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拓普测控受邀参加2007中国PXI技术和应用论坛

字体: 放大字体  缩小字体 发布日期:2007-08-23  浏览次数:318
近日,拓普测控接到美国NI公司邀请,于八月前往西安参加2007年中国地区PXI技术和应用论坛。该论坛由美国国家仪器公司主办,是一个多供应商共同打造的行业技术盛会,之前已在北京、深圳、上海三地连续举办了三年,今年拓普测控将代表国产品牌首次参与大会。

今年的PXI技术和应用论坛将研究例如PXIExpress等新兴技术,探讨如何应用这些新技术去解决新的应用挑战并分享国内外不同领域中现有的基于PXI平台的成功案例来激发创新和讨论。

拓普测控在国内首家推出PXI数据采集、测量模块,该总线模块具备高速、高精度、大容量、并行采集、同步扩展等特点。目前已在众多高标准、高性能的军工、科研系统中成功应用。在本次论坛上,公司将展示多款基于PXI的总线数据采集、测量模块,欢迎与会的工程师和研究人员到场交流。
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